TY - JOUR A1 - Ke, Xiaoxing A1 - Bittencourt, Carla A1 - Bals, Sara A1 - Van Tendeloo, Gustaaf T1 - Low-dose patterning of platinum nanoclusters on carbon nanotubes by focused-electron-beam-induced deposition as studied by TEM JF - Beilstein Journal of Nanotechnology PY - 2013/// VL - 4 SP - 77 EP - 86 SN - 2190-4286 DO - 10.3762/bjnano.4.9 PB - Beilstein-Institut JA - Beilstein J. Nanotechnol. UR - https://doi.org/10.3762/bjnano.4.9 KW - carbon nanotubes KW - FEBID KW - nanocluster KW - platinum KW - patterning KW - radiation-induced nanostructures KW - TEM N2 - Focused-electron-beam-induced deposition (FEBID) is used as a direct-write approach to decorate ultrasmall Pt nanoclusters on carbon nanotubes at selected sites in a straightforward maskless manner. The as-deposited nanostructures are studied by transmission electron microscopy (TEM) in 2D and 3D, demonstrating that the Pt nanoclusters are well-dispersed, covering the selected areas of the CNT surface completely. The ability of FEBID to graft nanoclusters on multiple sides, through an electron-transparent target within one step, is unique as a physical deposition method. Using high-resolution TEM we have shown that the CNT structure can be well preserved thanks to the low dose used in FEBID. By tuning the electron-beam parameters, the density and distribution of the nanoclusters can be controlled. The purity of as-deposited nanoclusters can be improved by low-energy electron irradiation at room temperature. ER - TY - JOUR AU - Terrones, M. JF - Annu. Rev. Mater. Res. PY - 2003/// VL - 33 SP - 419 EP - 501 DO - 10.1146/annurev.matsci.33.012802.100255 ER - TY - JOUR AU - Bittencourt, C. AU - Hecq, M. AU - Felten, A. AU - Pireaux, J. J. AU - Ghijsen, J. AU - Felicissimo, M. P. AU - Rudolf, P. AU - Drube, W. AU - Ke, X. AU - Van Tendeloo, G. JF - Chem. Phys. Lett. PY - 2008/// VL - 462 SP - 260 EP - 264 DO - 10.1016/j.cplett.2008.07.082 ER - TY - JOUR AU - Suarez-Martinez, I. AU - Bittencourt, C. 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